ICS 31.180 CCSL30 中华人民共和国国家标准 GB/T33772.2—2025 质量评定体系第2部分：电子元器件及 封装件检验用抽样方案的选择和使用 Quality assessment systemsPart2:Selection and use of samplingplans for inspection of electronic components and packages （IEC61193-2:2007,M0D) 2025-12-01实施 2025-05-30发布 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T 33772.2—2025 目 次 前言 范围 1 2规范性引用文件 3术语和定义 ........ 4抽样系统 5接收和拒收 6统计验证质量限（SVQL） 附录A（资料性）在置信度60%下估计每百万（X10-）不良率的统计验证质量限（SVQL） .5 附录B（资料性） 本文件与GB/T2828.1—2012之间的关系. 11 I GB/T33772.2—2025 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件是GB/T33772《质量评定体系》的第2部分。GB/T33772已经发布了以下部分： 第1部分：印制板组件上缺陷的统计和分析； 第2部分：电子元器件及封装件检验用抽样方案的选择和使用。 本文件修改采用IEC61193-2：2007《质量评定体系第2部分：电子元器件及封装件检验用抽样方 案的选择和使用》。 本文件与IEC61193-2：2007相比做了下述结构调整： 术语3.1对应IEC61193-2：2007的3.6； 一删除了IEC61193-2：2007的附录C。 本文件与IEC61193-2:2007的技术差异及其原因如下： 作性； 由于GB/T2036和GB/T3358.2—2009中已有定义，制除了IEC61193-2：2007中部分术语 及其定义（见IEC61193-2：2007的3.1～3.5)。 本文件做了下列编辑性改动： 由于与正文内容描述无关，删除了IEC61193-2:2007的附录C资料性）。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国印制电路标准化技术委员会（SAC/TC47)提出并归口。 本文件起草单位：成都航天通信设备有限责任公司、中国电子技术标准化研究院、安徽翔胜科技有 限公司、广东美的制冷设备有限公司、西安西谷微电子有限责任公司、浙江七星电子股份有限公司、江苏 赛西科技发展有限公司、中国电子技术标准化研究院华东分院、西安正芯云尚电子技术有限公司。 本文件主要起草人：刘厚文、马忠义、孔薇、黄靖康、张晓梅、管琪、孙标、谭爱国、王建明、赵云、 杨宏辉、杨军、张星星、颜旺、郭哲。 Ⅲ GB/T33772.2—2025 引言 GB/T33772《质量评定体系》拟由三个部分构成。 第1部分：印制板组件上缺陷的统计和分析。目的在于规定焊接过的印制板组件上各种加工 缺陷的统计和分析方法，还规定了收集缺陷百万分率（ppm)数据的两种方法。 一第2部分：电子元器件及封装件检验用抽样方案的选择和使用。目的在于为电子元器件及封 装件的检验提供抽样系统和方案，适用于在有效过程控制下生产的产品，以防止不合格产品的 流出。 一第3部分：印制板及层压板最终产品检验及过程监督用抽样方案的选择和使用。目的在于规 定印制板和层压板最终产品检验及过程监督用属性检验的抽样方案的选择及使用，包括抽样 方法、属性分类、检验方案和抽样方案的应用等。 本文件规定，为获得高质量的产品，需要通过过程控制（如对关键特性进行100%测试）和统计方法 来稳定、监控和改进工艺流程。 抽样检验是用于验证以下内容的方法之一： a）过程控制是否有效； b）客户或第三方对供应商产品质量水平的评估。 当前，用于电子电气设备的产品质量水平需达到或接近零缺陷。但若仅通过抽样检验来评估接近 零缺陷的质量水平，将导致检验成本的不合理增加。因此，通常将过程控制与零接受数抽样方案两种方 法结合使用。 IV GB/T33772.22025 质量评定体系第2部分：电子元器件及 封装件检验用抽样方案的选择和使用 1范围 本文件规定了电子元器件和封装件检验用抽样方案选择和使用的要求。 本文件适用于电子电气产品所使用的电子元器件和封装件的检验。 2规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文 件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于 本文件。 GB/T2036印制电路术语 GB/T2828.1一2012计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样 计划(ISO2859-1：1999,IDT) GB/T3358.2—2009统计学词汇及符号第2部分：应用统计（ISO3534-2：2006，IDT） 3术语和定义 3.1 结构相似产品 structurally similarproducts 同一制造商采用相同材料、制造工艺和方法生产的产品。 注：即使外尧尺寸和额定值存在差异，产品在结构上也是相似的。同一组中不同批次结构相似产品的检验测试结 果可合并统计。 4抽样系统 4.1批次的形成和识别 产品应组合成可识别的批或子批。在可行的情况下，每个批次应由单一的类型、等级、类别、尺寸和 成分的物品在基本相同的时间和条件下生产。 4.2抽样 4.2.1抽取样品的方法 样品的选择应通过简单随机抽样方式抽取（见GB/T3358.2一2009中1.2.24)。然而，当批由子批 或层组成时，则应按照合理的标准采用分层抽样方法，以使每个子批或层的子样本量与该子批或层的大 小成正比。 1 GB/T33772.2—2025 4.2.2 抽样时机 样品可在批次生产后或批次生产期间抽取。 4.3抽样计划 4.3.1 检验水平 检验水平确定了检验的相对严格程度。检验水平分为一般检验水平和特殊检验水平，一般检验水 平包括I、Ⅱ、Ⅲ三个等级，除非另有规定，应使用等级Ⅱ。当要求鉴别力较低时可使用I水平，当要求 鉴别力较高时可使用Ⅲ水平。特殊检验水平包括S-1、S-2、S-3、S-4四个等级，可用于仅允许使用相对小 的样本量而且能容许较大抽样风险的情形，例如破坏性检验或有价值的产品，则可选择使用特殊检验 水平。 检验水平应根据详细规范或与供应商和用户达成的协议来规定。 4.3.2正常检验一次抽样方案 除另有规定外，正常检验的单次抽样计划应采用表1的规定。 注：表1来自GB/T2828.1—2012. 表1 样本量 特殊检验水平 一般检验水平 批量 S1 S-2 S-3 S-4 I I I 2~8 2 2 2 2 2 2 3 9~15 2 2 2 2 2 5 16~25 2 2 3 3 3 5 8 26~50 2 3 5 5 8 13 51~90 5 5 5 13 20 91~150 3 8 8 20 32 151~280 3 5 8 13 13 32 50 281~500 5 8 13 20 50 80 501~1200 5 20 32 80 125 13 1201~3200 5 8 13 32 50 125 200 5 8 20 32 80 3201~10000 200 315 5 8 20 50 125 315 500 10001~35000 35001~150000 8 13 32 80 200 500 800 150001~500000 13 32 80 315 800 1250 ≥500001 13 50 125 500 1 250 2 000 4.3.3接收数 接收数(Ac)为0，拒收数(Re)为1。 2