ICS33.100 L06 中华人民共和国国家标准 GB/T30842—2014 高 高压试验室电磁屏蔽效能 要求与测量方法 Electromagneticshieldingeffectivenessspecificationand measuringmethodforhighvoltagetestingenclosures 2014-06-24发布 2015-01-22实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布目 次 前言 Ⅲ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 术语和定义 1 ……………………………………………………………………………………………… 4 高压试验室屏蔽效能要求 1 ……………………………………………………………………………… 4.1 高压试验室分类 1 …………………………………………………………………………………… 4.2 高压试验室屏蔽效能要求 1 ………………………………………………………………………… 4.3 高压试验室绝缘电阻、接地电阻要求 3 ……………………………………………………………… 5 一般要求 3 ………………………………………………………………………………………………… 5.1 测量环境要求 3 ……………………………………………………………………………………… 5.2 测量设备和天线 3 …………………………………………………………………………………… 5.3 测量频率 4 …………………………………………………………………………………………… 5.4 屏蔽效能的计算 5 …………………………………………………………………………………… 6 高压试验室的屏蔽效能测量 6 …………………………………………………………………………… 6.1 被测高压试验室要求 6 ……………………………………………………………………………… 6.2 高压试验室屏蔽效能测量方法 6 …………………………………………………………………… 6.3 高压试验室电场屏蔽衰减测量方法 14 ……………………………………………………………… 6.4 测量结果判定 14 ……………………………………………………………………………………… 附录A(规范性附录) 高压试验室绝缘电阻、接地电阻的要求及测量方法 15 ………………………… 附录B(资料性附录) 高压试验室电场屏蔽衰减测量方法 17 …………………………………………… 附录C(资料性附录) 关于高压试验室分类的说明 19 …………………………………………………… 参考文献 20 …………………………………………………………………………………………………… ⅠGB/T30842—2014 前 言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。 本标准起草单位:中国航天科工集团二院二○三所、中国电力科学研究院、常州新区金利达电子有 限公司、常州市长城屏蔽机房设备有限公司、长屏(北京)电磁防护技术有限公司。 本标准主要起草人:吴红森、邬雄、沈涛、张建功、韩玉峰、李妮、李志珍、周乐乐、蔡鹏飞、徐国英。 ⅢGB/T30842—2014 高压试验室电磁屏蔽效能 要求与测量方法 1 范围 本标准规定了10kHz~3GHz频率范围内高压试验室屏蔽效能的要求和测量方法。频率也可扩 展到10GHz。 本标准适用于高压试验室电磁屏蔽效能的评价和测量。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T4365 电工术语 电磁兼容 DL/T475 接地装置特性参数测量导则 3 术语和定义 GB/T4365界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 屏蔽效能 shieldingeffectiveness 对屏蔽体隔离或限制电磁波的能力的度量。通常表示为入射波与透射波的幅度之比,用分贝表示。 3.2 高压试验室 highvoltagetestingenclosure 高压试验室是带有特殊设计的电磁屏蔽体用于电力高压设备试验的设施。 3.3 高压试验室试验区域 testingareaofhighvoltagetestingenclosure 高压试验室中用于放置被测设备并进行试验的区域。 4 高压试验室屏蔽效能要求 4.1 高压试验室分类 高压试验室按用途分成四种类型,分类说明见附录C。 4.2 高压试验室屏蔽效能要求 高压试验室屏蔽效能要求见表1。 1GB/T30842—2014 表1 高压试验室屏蔽效能要求 高压试验室类型频率范围 MHz屏蔽效能 dB 磁场 电场a电磁场 Ⅰ型0.15~0.5 0.5~1.6≥50+100 7(f-0.15)b ≥55≥60+200 7(f-0.15)b ≥70— — Ⅱ型0.15~0.5 0.5~1.6≥65+100 7(f-0.15)b ≥70— — Ⅲ型0.01~0.1 0.1~30 30~1000 1000~3000≥60+10(lgf+2)c ≥70+4.037(lgf+1)c — —— — — —— — ≥90 ≥90 Ⅳ型0.15~0.5 0.5~1.6≥50+100 7(f-0.15)b ≥55— —— — a 具有底部非导电接触大屏蔽门的高压试验室大屏蔽门屏蔽效能测量只考虑电场数据,不考虑磁场数据,参见 6.2.3。 b 式中f为频率,单位为兆赫兹(MHz)。数值曲线参见图1; c 式中f为频率,单位为兆赫兹(MHz)。数值曲线参见图2。 说明: ———Ⅰ型、Ⅳ型磁场屏蔽效能限值; --Ⅰ型电场屏蔽效能限值; ┅┅Ⅲ型磁场屏蔽效能限值。 f———频率; SE———屏蔽效能。 图1 高压试验室磁场屏蔽效能限值曲线 2GB/T30842—2014