GB-T 15757-2002 产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数

中华人民共和国国家标准 GB/T_15757-2002 eqv IS0 8785:1998 产品几何量技术规范（GPS) 表面缺陷术语、定义及参数 Geometrical Product Specifications (GPS)- Surface imperfections- Terms ,definitions and parameters 2002-07-15发布 2003-01-01实施中华人民共和国发布国家质量监督检验检疫总局 GB/T 15757—2002 前言本标准是根据国际标准ISO8785:1998《产品几何量技术规范（GPS）表面缺陷术语、定义及参数》（1998年版），对GB/T15757—1995《表面缺陷术语、定义及参数》进行修订，在技术内容上与 ISO8785:1998等效，编写规则上与之等同。本标准主要在以下内容修订：增加了缩孔、（凹面）题曲、（凸面）题曲定义的相应图示；对表面缺陷的特性和参数的代号做了改动。本标准与ISO8785的区别：略去了ISO8785中的导言，与国家标准的编写规则相协调；略去了ISO8785中的附录B(参考目录)。本标准自实施之日起，同时代替GB/T15757--1995。本标准的附录A是提示的附录。本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位：中国机械科学研究院、时代集团公司、中国计量科学研究院、北京计量科学研究所、沈阳601所。本标准主要起草人：王欣玲、王忠滨、高思田、吴迅、王肇强、赵有祥。

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