ICS 31.080. 01 L40 中华人民共和国国家标准 GB/T4937.3—2012/IEC60749-3:2002 半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检 Semiconductordevices- Mechanical and climatic tests methods- Part 3:External visual examination （IEC60749-3:2002,IDT) 2012-11-05发布 2013-02-15实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会数码防伤

GB-T 4937.3-2012 半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检

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