(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202210660005.1 (22)申请日 2022.06.13 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 114742835 A (43)申请公布日 2022.07.12 (73)专利权人 新乡职业 技术学院 地址 453000 河南省新乡市经三路6号 (72)发明人 魏海云　王磊　丁志岩　郭宗辉　 张萍　 (74)专利代理 机构 新乡市挺立众创知识产权代 理事务所(普通 合伙) 41192 专利代理师 林海 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 7/73(2017.01) G06T 7/90(2017.01) G06N 20/00(2019.01) G06K 9/62(2022.01) G06V 10/74(2022.01) (56)对比文件 CN 113822893 A,2021.12.21 CN 114155353 A,2022.03.08CN 112036489 A,2020.12.04 CN 102360432 A,2012.02.2 2 CN 10493 3721 A,2015.09.23 CN 109978898 A,2019.07.0 5 CN 111881412 A,2020.1 1.03 CN 106056575 A,2016.10.26 CN 103048331 A,2013.04.17 US 2003215129 A1,2003.11.20 KR 20120138376 A,2012.12.26 孙金元 等.阵列测向系统性能分析与仿真. 《桂林电子 工业学院学报》 .20 04,第24卷(第1 期),第29-32页. 秦屹.基于场景的红外焦平面阵列非均匀性 校正. 《中国优秀博硕士学位 论文全文数据库 （硕 士） 信息科技 辑》 .2014,第2014 年卷(第07期), 第I138-696页. 姜松 等.弹性材 料后屈曲形变参数和弹性 模量测定 仪. 《农业机 械学报》 .2013,第4 4卷(第4 期),第152-15 6页. Karthik Bharath 等.Distributi on on Warp Maps for Al ignment of Open and Closed Curves. 《J Am Stat As soc》 .2020,第 115卷(第5 31期),第1378-139 2页. 审查员 田子茹 (54)发明名称 一种液晶弹性体材 料阵列性能的测试设备 (57)摘要 本发明提出一种液晶弹性体材料阵列性能 的测试设备， 利用非接触的光学相机采集被测液 晶弹性体阵列模块的图像， 利用机器视觉的学习 方法对液晶弹性体阵列单元处于不同形变状态 下的图像参数进行学习， 实现根据图像参数对液 晶弹性体阵列单元形变性能的检测和异常单元 的定位。 权利要求书2页 说明书8页 附图1页 CN 114742835 B 2022.09.02 CN 114742835 B 1.一种液晶弹性体材料阵列性能的测试设备， 其特征在于： 包括传送带、 光源、 光学相 机和处理器； 其中传送带用于承载待检测的液晶弹性体材料阵列， 将其传输至检测区域； 待检测的 液晶弹性体材料阵列包括多个液晶弹性体单元和基板， 多个液晶弹性体单元位于模块基板 上， 呈矩阵排布； 光源用于向待检测的液晶弹性体材料阵列照 射光线， 从而使得液晶弹性体单元发生形 变； 光学相机用于采集已发生形变的液晶弹性体单元的形变图像， 并将该形变图像传输至 处理器； 处理器用于 接收光学相机采集的形变图像， 并执 行如下步骤： (1)根据液晶弹性体单元的颜色分布和基板的颜色分布确定形变图像的概率图η(u, v)： 其中， θ＝θ(u,v)表示在空间位置(u,v)处像素的颜色值， η(u,v)为概率图在相应的空 间位置(u,v)处 的像素值； Θ1为液晶弹性体单元颜色所服从的高斯分布； Θ2为模块基板颜 色所服从的高斯分布； 对概率图作进行如下处 理得到特 征分布图： 其中， 为两个预设方阵， ‑2≤α1, β1≤2，‑4≤α2, β2≤4为方阵元素的空间坐标； u, v为空间位置； 利用同样方法事先计算出 标准形变图像的特 征分布图 (2)对形变图像特 征分布图 中的每个像素计算 其单元响应距离ρ(u,v)： 当 时， 其中， median表示取一个集合中所有元素的中间值， T为经验阈值， δ表示<k1,k2>取八个 方向时的最大步长； 事先对标准形变图像特征分布图 中的每个像素， 计算其单元响应距离ρS(u,v)； 分别取上述两个单元响应距离中最大 的前N个像素， 计算形变图像特征分布图和标准形变 图像特征分布图的空间相似性； 利用形变图像特征分布图和标准形变图像特征分布图的数学期望和两个分布图中的 像素个数计算两者内容相似性；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114742835 B 2(3)当空间相似性≤10， 内容相似性>0.8时， 则形变符合要求， 否则形变异常； 当形变异 常时， 输出如下 灰度图 其中， u′,v′分别表示以u,v为中心、 周围wu， wv范围内的像素坐标； λ>0为控制系数； 根据灰度图中灰度值大小来定位形变异常的液晶弹性体单 元的位置 。 2.如权利要求1所述的一种液晶弹性体材料阵列性能的测试设备， 其特征在于： wu， wv＝ 4。 3.如权利要求1所述的一种液晶弹性体材料阵列性能的测试设备， 其特征在于： λ＝ 0.9。 4.如权利要求1所述的一种液晶弹性体材料阵列性 能的测试设备， 其特征在于： 光源为 两个。 5.如权利要求4所述的一种液晶弹性体材料阵列性 能的测试设备， 其特征在于： 两个光 源分别位于检测区域左上 方、 右上方。 6.如权利要求5所述的一种液晶弹性体材料阵列性 能的测试设备， 其特征在于： 两个光 源分别照射液晶弹性体材 料阵列左半部分和右半部分。 7.如权利要求6所述的一种液晶弹性体材料阵列性 能的测试设备， 其特征在于： 两个光 源交替照射。 8.如权利要求7所述的一种液晶弹性体材料阵列性 能的测试设备， 其特征在于： 左上方 的光源通过光照使得阵列左侧液晶弹性体单元发生形变， 而右侧液晶弹性体单元未发生形 变， 构成第一图案 。 9.如权利要求7所述的一种液晶弹性体材料阵列性 能的测试设备， 其特征在于： 右上方 的光源通过光照使得阵列右侧液晶弹性体单元发生形变， 而左侧液晶弹性体单元未发生形 变， 构成第二图案 。 10.如权利要求1所述的一种液晶弹性体材料阵列性能的测试设备， 其特征在于： 处理 器为单片机、 CPU、 D SP、 电脑、 服 务器。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114742835 B 3