(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202210778087.X (22)申请日 2022.07.04 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 114820631 A (43)申请公布日 2022.07.29 (73)专利权人 南通中豪超纤制品有限公司 地址 226500 江苏省南 通市如皋市白蒲 镇 林梓兴业路2号 (72)发明人 刘明　王林云　刘小平　 (74)专利代理 机构 北京汇信合知识产权代理有 限公司 1 1335 专利代理师 金星 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/30(2006.01)G06T 5/10(2006.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 7/13(2017.01) G06T 7/136(2017.01) G06V 10/74(2022.01) G06V 10/762(2022.01) 审查员 狄希 (54)发明名称 一种抗纹 理干扰的面料缺陷检测方法 (57)摘要 本发明涉及图像处理领域， 具体涉及一种抗 纹理干扰的面料缺陷检测方法， 包括： 获取待检 测面料的纹路边缘图像及纹路边缘图像对应的 频谱图； 对频谱图进行分析， 得到待检测面料的 纹路方向角度； 利用纹路方向角度得到各方向角 度的滑窗模板； 利用各滑窗模板遍历纹路边缘图 像， 得到每个像素点与滑窗模板的匹配程度； 根 据每个像素点与各滑窗模板的匹配程度对纹路 边缘像素点进行去除， 得到疑似缺陷边缘像素 点； 对疑似缺陷边缘像素点进行聚类处理， 得到 缺陷边缘像素点； 对缺陷边缘像素点进行膨胀处 理， 得到待检测面料的缺陷区域。 上述方法用于 对面料缺陷进行检测， 通过上述方法可有效降低 面料本身纹路的干 扰， 提高缺陷检测的准确性。 权利要求书2页 说明书8页 附图5页 CN 114820631 B 2022.09.20 CN 114820631 B 1.一种抗纹 理干扰的面料缺陷检测方法， 其特 征在于， 包括： 获取待检测面料的纹路边 缘图像； 对纹路边 缘图像进行傅里叶变换， 得到纹路边 缘图像对应的频谱图； 对频谱图进行阈值分割和霍夫变换检测， 得到待检测面料的纹路方向角度； 设置滑窗大小， 利用待检测面料的纹路方向角度确定出不同方向角度的滑窗模板； 利用不同方向角度的滑窗模板遍历纹路边缘图像， 得到纹路边缘图像中每个像素点与 各方向角度滑窗模板的匹配程度； 根据每个像素点与各方向角度滑窗模板的匹配程度得到纹路边缘图像中的纹路边缘 像素点； 对纹路边 缘图像中的纹路边 缘像素点进行去除， 得到疑似缺陷边 缘像素点； 对疑似缺陷边缘像素点进行聚类处理， 得到离散的正常纹理边缘像素点； 所述离散的 正常纹理边缘像素点是按照如下 方式得到： 对疑似缺陷边 缘像素点进行聚类处 理， 得到各个 类别对应的边 缘像素点 坐标序列； 利用边缘像素点坐标序列及边缘像素点与滑窗模板的最终匹配程度， 得到各个类别整 体为缺陷边缘的概率； 设置缺陷边 缘概率阈值； 判断各个类别整体为缺陷边缘的概率与缺陷边缘概率阈值的大小， 得到离散的正常纹 理边缘像素点； 对离散的正常纹 理边缘像素点进行去除， 得到缺陷边 缘像素点； 对缺陷边 缘像素点进行膨胀处 理， 得到待检测面料的缺陷区域。 2.根据权利要求1所述的一种抗纹理干扰的面料缺陷检测方法， 其特征在于， 所述待检 测面料的纹路边 缘图像是按照如下 方式获取： 采集待检测面料展开图像； 对待检测面料展开图像进行 灰度化处 理， 得到待检测面料展开灰度图； 对待检测面料展开灰度图进行高斯模糊处理， 得到去除经纬线的待检测面料展开灰度 图； 对去除经纬线的待检测面料展开灰度图进行边缘检测， 获取待检测面料的纹路边缘图 像。 3.根据权利要求1所述的一种抗纹理干扰的面料缺陷检测方法， 其特征在于， 所述待检 测面料的纹路方向角度是按照如下 方式得到： 以频谱图中心点 为坐标原点建立 直角坐标系； 对频谱图进行阈值分割， 提取 频谱图中的两条亮线； 对频谱图进行霍夫变换检测直线， 得到两条亮线相对于坐标原点的两个角度 ， 这两个角度即为待检测面料的纹路方向角度。 4.根据权利要求3所述的一种抗纹理干扰的面料缺陷检测方法， 其特征在于， 所述不同 方向角度的滑窗模板是按照如下 方式得到： 设置滑窗大小为 n×n；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114820631 B 2将滑窗窗口中位于左下角的像素点设为锚点， 以锚点为起始位置， 以纹路方向角度 为方向作直线， 得到纹路方向角度 对应的直线； 将直线经过滑窗窗口中的所有像素点位置标记为1， 其余位置标记为0， 得到纹路方向 角度 对应的滑窗模板 ； 纹路方向角度 对应的滑窗模板 是按照以上 方式得到 。 5.根据权利要求1所述的一种抗纹理干扰的面料缺陷检测方法， 其特征在于， 所述纹路 边缘图像中每 个像素点与各 方向角度滑窗模板的匹配程度是按照如下 方式得到： 记录滑窗模板 中值为1的个数； 以待检测面料的纹路边 缘图像的左下角为原点建立 坐标系； 设置每个像素点的滑窗大小为 n×n； 将每个像素点的滑窗与滑窗模板 进行相与操作， 得到相与结果滑窗中值 为1的个数； 根据滑窗模板 中值为1的个数和相与结果滑窗中值为1的个数， 得到每个像素点与滑 窗模板 的匹配程度； 每个像素点与滑窗模板 的匹配程度是按照以上 方式得到 。 6.根据权利要求1所述的一种抗纹理干扰的面料缺陷检测方法， 其特征在于， 所述疑似 缺陷边缘像素点是按照如下 方式得到： 比较每个像素点与 各方向角度滑窗模板的匹配程度， 选取较大值作为每个像素点最终 的匹配程度； 设置匹配程度阈值； 判断每个像素点最终的匹配程度与匹配程度阈值的大小； 将最终的匹配程度小于匹配程度阈值的像素点进行修正， 得到该像素点修正后的匹配 程度； 设置修正后的匹配程度阈值； 将纹路边缘图像中最终匹配程度不小于匹配程度阈值的像素点及修正后匹配程度不 小于修正后匹配程度阈值的像素点进行去除， 得到疑似缺陷边 缘像素点。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114820631 B 3