(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210836920.1 (22)申请日 2022.07.15 (71)申请人 东风汽车集团股份有限公司 地址 430056 湖北省武汉市武汉经济技 术 开发区东 风大道特1号 (72)发明人 张旭　胡玉洁　郭文博　谢德钰　 熊芬　 (74)专利代理 机构 武汉智权专利代理事务所 (特殊普通 合伙) 42225 专利代理师 李斯 (51)Int.Cl. G06V 10/74(2022.01) G01N 21/3563(2014.01) (54)发明名称 一种基于谱图分解的高分子鉴别方法及电 子设备 (57)摘要 本申请公开了一种基于谱图分解的高分子 鉴别方法及电子设备， 涉及高分子鉴别技术领 域， 该方法包括： 获取测试样品的谱图和各已知 样品的谱图； 将测试样品的谱图进行分峰拟合， 得到测试谱图； 将各已知样品的谱图分别进行分 峰拟合， 得到各标准谱图， 并以此建立标准谱 图 库； 若测试谱图与任一标准谱图的相似度大于或 等于预设阈值， 则判断测试样品为与对应已知样 品相同的单 组分高分子； 否则获取与测试谱图相 似度大于或等于预设阈值的近似谱图， 近似谱图 由多个标准谱图线性组合， 并判断测试样品为该 多个标准谱图对应已知样品混合的多组分高分 子。 本申请， 在无需人为干 预的情况下， 对单 组份 高分子确定其种类， 对多组分高分子确定其主要 组成成分及含量。 权利要求书2页 说明书14页 附图6页 CN 115294367 A 2022.11.04 CN 115294367 A 1.一种基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特 征在于， 其包括 步骤： 获取测试样品的谱图和各已知样品的谱图， 所述谱图具 备可加性； 将所述测试样品的谱图进行分峰拟合， 得到拟合的测试谱图； 将各已知样品的谱图分别进行分峰拟合， 得到拟合的各标准谱图， 并以此建立标准谱 图库； 将所述测试谱图与 所述标准谱图库中各标准谱图进行相似度分析； 若所述测试谱图与 任一标准谱图的相似度大于或等于预设阈值， 则判断所述测试样品为与对应已知样品相同 的单组分高分子； 否则获取与所述测试谱图相似度大于或等于预设阈值的近似谱图， 所述 近似谱图由多个标准谱图线性组合， 并判断测试样品为该多个标准谱图对应已知样品混合 的多组分高分子 。 2.如权利要求1所述的基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特征在于， 获取与 所述测试 谱图相似度大于或等于预设阈值的近似 谱图， 具体包括： 将所述标准谱图库中的每 个标准谱图分别与测试谱图内积， 并变换为矩阵形式； 获取标准谱图库中两两内积构 成的系数矩阵、 以及标准谱图库中的每个标准谱图分别 与测试谱图内积的常向量； 基于所述矩阵形式， 计算组合系数向量， 所述组合系数向量为所述系数矩阵的逆矩阵 与所述常向量的乘积； 基于所述组合系数向量获取待验证的近似谱图， 并当所述测试谱图与待验证的近似谱 图的相似度大于或等于预设阈值时， 判断待验证的近似 谱图有效。 3.如权利要求2所述的基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特征在于， 判断待验证的近 似谱图有效之后， 还 包括： 由所述组合系数向量的分量 解析出所述多组分高分子的各组分和比例。 4.如权利要求2所述的基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特征在于： 将所述标准谱图 库中的每个标准谱图分别与测试谱图内积时， 所述测试谱图由标准谱图库中的各标准谱图 线性组合表出。 5.如权利要求2所述的基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特征在于， 以A为所述系数 矩阵， 为所述组合系数向量， 为所述常向量； 计算组合系数向量， 具体包括： 引入Tikhonov正则化， 将计算所述系数矩阵的逆矩阵与所述常向量的乘积转化为求解 使得代价函数 取得极小值的 此时， 对应的解满足方程： 其中， I为单位矩阵， λ为Ti khonov正则化 参数； 采用非负最小二乘法NNLS求解所述方程， 并对得到的解进行归一化处理， 得到所述组 合系数向量。 6.如权利要求5所述的基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特征在于： 所述λ根据所述 系数矩阵的条件数进行确定 。 7.如权利要求1所述的基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特征在于： 进行分峰拟合 时， 采用连续小波变换 的寻峰算法， 并根据谱图复杂程度随机指定多个额外峰作为寻峰算 法的冗余。 8.如权利要求1所述的基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特征在于： 所述测试谱图和权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115294367 A 2标准谱图的函数 形式均采用高斯型函数或洛伦兹型函数。 9.如权利要求1所述的基于谱图分解的高分子鉴别方法， 其特征在于： 当所述测试谱图 与任一标准谱图的相似度小于预设阈值、 且无法获取与所述测试谱图相似度不小于预设阈 值的近似 谱图时， 补充其 他已知样品的标准谱图或调整预设阈值后重新进行鉴别。 10.一种用于高分子鉴别的电子设备， 其特征在于， 包括处理器和存储器， 所述处理器 执行所述存储器中的代码实现如权利要求1至9任一权利要求所述的方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115294367 A 3